更新時間:2025-11-29
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原理:光源從被測物體的上方斜向照射,光線在物體表面反射后進入物鏡成像。這是常用的一種方法。
應用:主要用于觀察和測量工件的表面輪廓、刻線、瑕疵、形狀等。例如,測量螺紋的牙型、零件的輪廓尺寸、刀具的刃口形狀等。
特點:類似于在普通顯微鏡下觀察不透明物體,看到的是物體的表面反射像。
原理:光源從工件的下方垂直向上照射,光線透過工件(或工件與載物臺之間的空隙)進入物鏡。為了精確測量圓柱體直徑或螺紋中徑等,常在光路中放置測量刀,利用其刃口與工件輪廓相切來進行測量,故又稱“軸切法"。
應用:精確測量圓柱體的直徑、螺紋的中徑、螺距、以及各種孔和槽的尺寸。
特點:測量精度非常高,是工具顯微鏡進行高精度尺寸測量的核心方法之一。
原理:光源通過半透半反鏡,從物鏡內部垂直向下照射到工件表面,反射光再通過同一物鏡成像。
應用:特別適用于觀察工件表面的微觀形貌、如劃痕、凹坑、鍍層狀態、以及高反射率金屬表面的細節。
特點:提供類似于金相顯微鏡的正面照明效果,能清晰地顯示表面細節,而不是輪廓。
原理:將透射照明光源(下光源)偏離中心位置,使光線以一定角度斜向照射工件。
應用:
增強對比度:對于透明或半透明工件(如玻璃刻度),斜光可以產生陰影,使邊緣更加清晰,提高瞄準精度。
觀察特定結構:可以凸顯某些特定的輪廓特征。
特點:利用“陰影效應"來改善成像質量,是透射照明的一種重要補充。
原理:使用一個特殊的環形光闌,使中心光線被遮擋,只有周邊光線以極大的傾斜角照射到工件上。如果工件表面平整,光線會全部反射出物鏡視野,視場呈黑暗;如果表面有微小起伏或顆粒,這些結構會將光線散射進物鏡,從而在暗背景中呈現明亮的像。
應用:檢測工件表面的微小瑕疵、如劃痕、麻點、灰塵、以及微細的紋理。對表面粗糙度非常敏感。
特點:背景暗,缺陷亮,對比度高,非常適合檢測表面質量。
原理:在顯微鏡光路中引入特殊的相襯棱鏡和環狀光闌,將人眼無法分辨的相位差信息轉換為明暗差(振幅差),從而增強透明或反射率相近物體的可見度。
應用:觀察表面極其平坦但存在微小高度差的樣品,如拋光表面的微觀不平度、薄膜厚度、生物樣品等。在工具顯微鏡上常用于檢測超精加工表面的質量。
特點:能將人眼不可見的“相位物體"變為可見,是觀察無色透明或低對比度樣品的利器。
原理:這是一種特殊的對焦方法,而非觀察方法。它使用一個極小的孔徑光闌(點光闌),當物鏡精確對焦在工件表面時,目鏡中會看到一個非常小而清晰的亮斑;如果離焦,光斑會迅速變大變模糊。
應用:實現高精度的垂直方向對焦,對于需要精確確定Z軸位置(高度)的測量至關重要。
特點:對焦精度遠高于普通觀察對焦,是實現三維坐標精確測量的關鍵步驟。
| 觀察方法 | 照明方式 | 主要應用 |
|---|---|---|
| 輪廓照明法 | 上光源斜射 | 觀察表面輪廓、形狀、刻線 |
| 透射照明法 | 下光源垂直透射 | 高精度測量孔徑、軸徑、螺紋中徑等 |
| 反射照明法 | 通過物鏡垂直照射 | 觀察表面微觀形貌、劃痕、鍍層 |
| 斜向照明法 | 下光源斜向透射 | 增強透明工件邊緣對比度 |
| 暗場照明法 | 大角度斜射照明 | 檢測表面微小瑕疵、顆粒、粗糙度 |
| 干涉相襯法 | 特殊光路轉換相位差 | 觀察平坦表面的微小高度差 |
| 光斑法 | 極小孔徑對焦 | 實現Z軸(高度)方向的精確對焦 |
這些觀察方法的靈活運用,使得工具顯微鏡不僅是一個測量尺寸的工具,更成為一個強大的表面質量分析和微觀形貌觀察平臺。在實際操作中,操作者會根據被測工件的材質、形狀、透明度以及測量目標,選擇最合適的一種或多種組合方法。
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